为了保证产品的可靠性以及使用寿命,在生产半导体元件后需要对其做高速高低温冲击试验,通常采用的试验设备是高低温试验箱和热冲击试验箱。环仪仪器冷热冲击试验箱(高低温冲击试验箱)根据待测试样的特殊性,分为两箱式动态冲击和三箱式静态冲击,高低温冲击试验箱既可作冷热冲击试验,也可以做单独高温或单独低温使用。
技术参数:
蓄热区温度范围: 80~200℃
蓄冷区温度范围:-10℃~-65℃
测试区温度范围:-40℃~ 150℃
高温: 60~150℃
低温:-10~-40℃
温度偏差:±2.0℃
温度波动度:±0.5℃
温度均匀度:±3℃
温度恢复时间:3~5min
高低温转换时间:≤15秒
高低温暴露时间:30min以上
技术优势:
1、通过吊篮在快速通道的移动方式实现被试样品的冷热冲击测试,大大的提高了样品过渡速度,从而让测试数据更加精确,还省却了人工操作的繁琐;
2、通过第一温度传感器、第二温度传感器、超温保护器、低温保护器级及急停按钮可以避免试验箱出现故障时,立刻停止试验,以免试验箱损害,可以起到很好的保护作用;
3、通过在高温冲击室内设置排气口和排气电磁阀,使得高温冲击室除了可以进行高温试验外,还可以进行常温试验。
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